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本发明公开了一种单量子比特逻辑门的测试方法、量子控制系统，首先获取单量子比特逻辑门的物理模型，并将所述单量子比特逻辑门施加到所述待测量子比特上，获取对应的实验结果，最后基于所述物理模型以及所述实验结果判断所述单量子比特逻辑门是否符合要求。基...
该专利属于本源量子计算科技（合肥）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过本源量子计算科技（合肥）股份有限公司授权不得商用。

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