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本技术涉及硅片技术领域，公开了一种硅片检测分选设备，包括检测分选箱，所述检测分选箱右端固定连接有上料板，所述上料板顶端设置有凹槽，所述上料板顶端两侧均固定连接有L形固定柱，所述L形固定柱相对一端固定连接有上料筒，所述上料板右端固定连接有固定...
该专利属于苏州若高智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州若高智能科技有限公司授权不得商用。

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