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本发明涉及神经网络技术领域，具体涉及一种尺度自适应的芯片检测神经网络系统，该系统将待处理图像分割成若干个待选区域，获取待选区域的特征量，结合待选区域内像素点的特征向量和标准向量的夹角值的大小，得到待选区域内每个标准向量的本征量，从而得到待选...
该专利属于闽都创新实验室所有，仅供学习研究参考，未经过闽都创新实验室授权不得商用。

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