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本发明公开了一种全谱段透射式植物生化参数无损检测装置及方法，用于解决目前光谱无损检测方法中模型适用性低、抗干扰能力差，检测精度低，以及检测参数较少等技术问题。发明采用全谱段透射测量原理，实现多参数高精度同时测量；采用时间双光路的参比测量原理...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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