温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请涉及芯片测试领域，特别是涉及一种射频测试机及射频测试系统。射频测试机，包括：信号发生电路，用于作为激励源产生第一射频信号；射频前端电路，用于对所述第一射频信号进行增益控制输出第二射频信号；内部功率检测电路，用于对所述第二射频信号进行增...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。