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本发明涉及特征物质的检测系统及方法。该方法包括：步骤１，对被测样品进行质谱分析得到每个样品点的质谱数据，并确定被测样品的感兴趣区域；步骤２，对于同一个ｍ／ｚ所表征的物质，分别计算感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的总离子强度、感兴趣区域内...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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