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本实用新型涉及植物表型测量技术领域，公开了一种植物表型测量系统，包括：培育室；培育组件，培育组件内种植有植物，培育组件放置在培育室内部；植物表型测量装置，设置在培育室内部，用于采集植物表型信息；环境调控系统，包括设置在培育室内部的环境检测子...
该专利属于北京市农林科学院信息技术研究中心所有，仅供学习研究参考，未经过北京市农林科学院信息技术研究中心授权不得商用。

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