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本发明公开了一种用于ＳｉＣ?ＭＥＳＦＥＴ直流测试的夹具，其包括馈电模块和用于固定待测ＳｉＣ?ＭＥＳＦＥＴ的固定支架，还包括一与馈电模块分立的基座，基座上设置上述固定支架。采用本发明克服了常规直流测试的夹具不能在高于２００℃下使用的缺陷，在消...
该专利属于中国电子科技集团公司第十三研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十三研究所授权不得商用。

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