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本实用新型涉及一种用于高分辨率测试的分辨率测试卡，包括平行且间隔设置的第一端板以及第二端板，第一端板以及第二端板之间设有多个线对，线对
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该专利属于中国工程物理研究院应用电子学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院应用电子学研究所授权不得商用。

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