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本发明公开一种电阻率测量装置及方法，利用涡流变化对半导体材料电阻率的测定。该装置包括：第一测量线圈与所述第一平衡线圈串联连接组成初级线圈，第二测量线圈与所述第二平衡线圈反向串联连接组成次级线圈；初级线圈与正弦波发生器的电源输出端连接，次级线...
该专利属于湖州师范学院所有，仅供学习研究参考，未经过湖州师范学院授权不得商用。

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