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本实用新型公开了一种基于开尔文结构的芯片测试装置，其包括：测试座和测试模块；测试模块设置有第一输出端、第一校验端和第一检测端，第一输出端与第一导线的第一端连接，第一导线的第二端与测试座的第一连接端连接，第一输出端用于向第一连接端输出信号；第...
该专利属于广东利扬芯片测试股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东利扬芯片测试股份有限公司授权不得商用。

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