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漏点分析设备制造技术
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文档序号:39347829
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本申请公开一种漏点分析设备,漏点分析设备用于分析设有外孔的电子设备并包括底座、压紧装置、封堵件和锁紧装置,底座具有用于放置电子设备的安装位,压紧装置安装于底座并用于将电子设备固定于安装位,封堵件与底座可移动地相连,封堵件具有封堵电子设备的外...
该专利属于北京小米移动软件有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京小米移动软件有限公司授权不得商用。
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