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本发明提供一种碳化硅器件老化测试方法包括：测试平台包括级联的前级同步型Boost桥臂电路和后级同步型Buck桥臂电路；直流电源通过二极管后输入到前级同步型Boost桥臂电路，与后级同步型Buck桥臂电路的输出端相连；直流电源根据测试工况进行...
该专利属于泰科天润半导体科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰科天润半导体科技（北京）有限公司授权不得商用。

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