温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明的异常检测装置提高回归模型在TEC值异常判定中的预测精度。由本发明的异常检测装置执行的处理包括：获取用于观测电离圈中的电子数量的多个观测站中的每一个的观测值的步骤(S910)；从多个观测站中选择中心观测站，并基于与中心观测站的距离从多...
该专利属于欧普特吉股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过欧普特吉股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。