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一种多电路板或多模块电子系统的诊断测试系统及方法技术方案
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文档序号:3923022
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本发明公开了一种多电路板或多模块电子系统的诊断测试系统及方法。本发明中的测试控制器包括主控器模块、接口控制模块、总线接口模块、数据处理模块、数据存储模块和寄存器组;能够在测试前对被测对象包含的、用作测试通道的电路和测试控制器本身进行自测试,...
该专利属于电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过电子科技大学授权不得商用。
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