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本实用新型公开了一种射频芯片测试系统，其包括测试组件、对比组件、程控衰减器以及测试分析终端，所述测试组件与对比组件都与程控衰减器和测试分析终端连接，所述程控衰减器与测试分析终端连接。本实用新型结构简单，硬件环境只需要标准芯片和FPGA，大大...
该专利属于四川思凌科微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川思凌科微电子有限公司授权不得商用。

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