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一种基于磁真空泄漏原理的漏磁检测方法及其装置制造方法及图纸
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文档序号:3919686
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本发明公开了一种基于磁真空泄漏原理的漏磁检测方法及其装置。该方法为①将待检测导磁构件磁化;②在上述被磁化的导磁构件外围,剔除已有背景磁场,形成磁真空区域;③采用磁敏元件布置于磁真空区域,拾取无磁压缩效应的缺陷漏磁场并转化为电压信号,如果电压...
该专利属于华中科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过华中科技大学授权不得商用。
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