温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了本发明涉及芯片验证领域，特别是涉及一种生成随机激励的约束分类方法、电子设备及存储介质，其通过消耗时长为每个约束满足问题匹配求解效率最高的约束求解器类型，并将约束求解器类型作为标签为每个约束求解问题进行标注，得到训练数据库，通过将...该专利属于上海合见工业软件集团有限公司成都融见软件科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海合见工业软件集团有限公司成都融见软件科技有限公司授权不得商用。