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本发明涉及一基于相移干涉测量法的光纤分析装置。本发明公开用于检测试样溶液中分析物（４６）的存在或数量或结合速率的装置和方法。所述装置包括具有相隔大于５０ｎｍ的距离“ｄ”的第一（４２）与第二（４０）反射表面的光学组件（２６），其中所述第一表面...
该专利属于佛特比奥公司所有，仅供学习研究参考，未经过佛特比奥公司授权不得商用。

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