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本发明公开了一种干涉条纹波面迭代方法及装置，涉及光学测量领域。用于解决现有针对干涉测量存在对硬件要求高、算法复杂以及运算速度较慢的问题。对获取到的待测物的初始干涉条纹图进行二值化处理，对二值化条纹进行近似求解得到初始待测相位；联立初始干涉条...
该专利属于西安工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安工业大学授权不得商用。

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