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本发明涉及一种光学散射测量中结构参数的提取方法及装置，通过算法计算得到结构参数；基于机器学习算法，分别计算训练集光谱、验证集光谱、测试集光谱对应的训练集的结构参数、验证集的结构参数、测试集的结构参数；通过模型融合方法将算法和机器学习算法求得...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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