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本发明公开了一种超细颗粒物的单颗粒质谱检测装置及方法，涉及超细颗粒物检测技术领域，该装置包括：颗粒聚焦发射系统、颗粒粒径检测系统和飞行时间质谱仪；颗粒粒径检测系统包括：第一激光器、第二激光器、第一柱面镜组、第二柱面镜组、第一光信号收集单元、...
该专利属于暨南大学所有，仅供学习研究参考，未经过暨南大学授权不得商用。

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