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本发明提供了基于频率引导二维S变换的三维面形垂直测量方法，包括如下步骤：S1.获取任意标定面，且已知其相对参考面的高度值；S2.基于频率引导二维S变换法，确定所述标定面不同投影焦距位置处的调制度分布；S3.在所述标定面光场上的任意像素位置处...
该专利属于成都信息工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过成都信息工程大学授权不得商用。

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