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本发明提供了一种针对芯片固件的故障预测和诊断方法，收集芯片固件运行数据，对芯片固件运行数据进行预处理，利用机器学习和数据挖掘技术建立故障预测模型，训练和优化故障预测模型，对芯片固件的运行数据进行分析，从而实现故障的预测和诊断。该方法能够提高...
该专利属于山东华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华芯半导体有限公司授权不得商用。

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