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本申请涉及一种评估孔径编码成像系统分辨性能的方法和装置，通过获取由待进行分辨性能评估的、采用随机相位编码的孔径编码成像系统对目标进行多次照射得到目标回波信号以及该成像系统的参数数据进行处理，得到成像平面内的辐射场立体方向图以及系统能量噪声比...
该专利属于中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。

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