下载基于相位恢复的芯片掩模版瑕疵检测方法的技术资料

文档序号:38999452

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本发明公开了基于相位恢复的芯片掩模版瑕疵检测方法,通过拍摄相机在同一平面内的不同角度位置拍摄掩膜版得到不同角度的拍摄图像,对拍摄图像进行傅里叶变换以将拍摄图像从空域转换至频域,并将不同角度的拍摄图像在频域中的频谱叠加合并,对叠加合并后的频谱...
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