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本申请涉及一种芯片分选方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。该方法包括获取所有所述芯片被点亮后的所述第一基板的第一图像；根据获取的所述第一图像确定所述芯片的光电参数以及位置信息；根据所述芯片的所述光电参数对所述芯片分档，并记录所...
该专利属于深圳市洲明科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市洲明科技股份有限公司授权不得商用。

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