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芯片可靠性试验远程监控装置、测试系统及方法制造方法及图纸
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文档序号:38987229
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本发明提供一种芯片可靠性试验远程监控装置、测试系统及方法,属于芯片测试数据传输与监控领域。所述监控装置包括:至少一个监控终端、MQTT服务终端和至少一个MQTT客户终端;MQTT客户终端用于向MQTT服务终端发送主题订阅请求,以及接收属于订...
该专利属于北京芯可鉴科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京芯可鉴科技有限公司授权不得商用。
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