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本发明公开了一种基于自动寻找最佳求和点数的电荷测量方法及系统，包括如下步骤：S1：利用幅度码值对最佳求和点数扫描区间下限进行计算得到下限求和点数，将下限求和点数作为初次配置求和点数；S2：获取采样数据，计算在初次配置求和点数下采样数据的多次...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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