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本发明涉及一种基于多批次小样本航天产品的缺陷率指标修正方法，包括：步骤S1、获取多批次小样本航天产品的质量缺陷率数据；从中提取出每一批质量数据的有效特征；使质量数据的有效特征能够归一化到百万量级产品条件下；步骤S2、基于所述质量数据的有效特...
该专利属于北京京航计算通讯研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京京航计算通讯研究所授权不得商用。

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