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一种基于图形处理器的结构光场高光表面缺陷实时检测方法，包括如下步骤：A1：CPU并行启动至少两个线程，并行地从拍摄被检物的光场相机中捕获视频帧数据以及将视频帧数据由内存写入GPU全局缓存中；A2：GPU与CPU异步并行启动微透镜特征计算，根...
该专利属于清华大学深圳国际研究生院所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学深圳国际研究生院授权不得商用。

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