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本发明提供了一种芯片失效概率的预测方法以及计算机可读存储介质，涉及产品寿命预测技术领域，包括以下的步骤：S1、由阿伦尼乌斯方程式中导出加速因子A
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该专利属于深圳一信泰质量技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳一信泰质量技术有限公司授权不得商用。

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