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本发明公开了一种基于原位等离子体异质结的高选择性痕量银离子检测方法。将BiOX(X＝I，Cl，Br)基薄膜作为传感材料置入含银离子溶液中进行预处理，待测银离子与BiOX中的自发离子交换过程能够在表面原位构筑BiOX/AgX/Ag等离子体异质...
该专利属于中南大学所有，仅供学习研究参考，未经过中南大学授权不得商用。

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