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本发明涉及一种大规模集成电路测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元，属于集成电路测试技术领域。为了降低测试数据的存储容量，缩短测试应用时间，本发明公开了一种大规模集成电路测试数据压缩的编码方法，通过存储程序的计算机执行如下步骤：首先以位串...
该专利属于陈向前所有，仅供学习研究参考，未经过陈向前授权不得商用。

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