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本发明公开一种单体集成相干收发器性能测量系统，包括：并行连接的保偏系统与非保偏系统，采用光开关和光环形器切换不同光路，具体包含一个电学参数测量链路和四个光学参数测量链路。可高效快速的一次性完成ICTR多项参数的测量，而且测量操作简单，测量速...
该专利属于NANO科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NANO科技（北京）有限公司授权不得商用。

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