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本发明公开了一种芯块多参数测量系统，所述芯块多参数测量系统包括：上料盒、几何体积测量单元、真体积测量单元、质量测量单元、下料盒、芯块转运单元、支撑台和数据处理单元，上料盒1用于盛放未进行测量的各芯块物料，下料盒用盛放测量结束的芯块物料。由几...
该专利属于四川航天计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过四川航天计量测试研究所授权不得商用。

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