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本发明公开了一种在透射电子显微镜中，为纳米金属样品提供原子级原位等静压力学性能测试的装置及方法。本发明属于纳米材料显微结构原位测试及表征技术领域。本发明创新性地设计了一种新的等静压容器装置：采用微操作技术将纳米金属样品加载并封装在两个碳纳米...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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