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本发明公开了一种根据暗像素进行暗电平校正的方法，包括：获取每一行的图像像素；采用迭代中值平均法获取每一行的暗电平校正值；将每一行的图像像素减去相应行的暗电平校正值，获得暗电平校正后的像素。有利于在确保暗电平校正质量的同时保证低的计算复杂度和...
该专利属于上海宇勘科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海宇勘科技有限公司授权不得商用。

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