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本发明涉及一种基于光学偏振态的参数测量方法，方法采用光学偏振测量仪，方法包括以下步骤：设置待测光源；对液晶盒的相位延迟量进行动态定标或静态定标；完成定标后，驱动电路向液晶盒上施加按照一定规律变化的电压信号，基于测量装置得到实验测量模式；扫描...
该专利属于华东理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华东理工大学授权不得商用。

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