下载一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台的技术资料

文档序号:38625631

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本发明属于二极管和三极管生产设备技术领域,具体地说是一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台,包括通道运输单元及视觉检测单元,其中通道运输单元包括通道主体,通道主体上分别设有入料阻挡机构、出料机构、剔料机构及入料压料机构等,通道主体内部形成...
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