温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明属于扰动探测技术领域，具体公开了一种基于双系数及双序列的电离层扰动探测方法、装置及介质。其中方法包括构建背景场，所述背景场与待测轨道相似；根据待测轨道与背景场的差值对电离层扰动进行提取。本发明利用太阳同步轨道固定，且经过同一地点当地时...
该专利属于中南大学所有，仅供学习研究参考，未经过中南大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。