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本发明涉及TEM原位划擦实验领域，并公开了一种用于TEM原位划擦实验的探针、一种用于TEM原位划擦实验的探针的制造方法以及一种用于TEM原位划擦实验的操作方法，所述探针包括：探针本体(1)，所述探针本体(1)的一端设置为划擦端；加强镀层(2...
该专利属于长沙凯普乐科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过长沙凯普乐科技有限责任公司授权不得商用。

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