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本申请公开了一种缺陷信息收集方法、缺陷信息获取方法及相关设备，该缺陷信息收集方法包括：采集待修复产品的识别码图像；根据识别码图像获取待修复产品的产品图像，并显示产品图像；接收产品图像上的缺陷位置信息以及缺陷位置信息相应的修复选项信息；将缺陷...
该专利属于鸿富锦精密电子（成都）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过鸿富锦精密电子（成都）有限公司授权不得商用。

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