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用于针对DEMURA校正的自适应二次采样的方法和装置制造方法及图纸
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下载用于针对DEMURA校正的自适应二次采样的方法和装置的技术资料
文档序号:38532111
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本公开内容涉及用于显示处理的方法和设备(包括装置,例如DPU)。装置可以接收针对显示面板的多个面板测量,多个面板测量中的每个面板测量与显示面板中的多个子像素相关联。装置可以在接收到多个面板测量时,确定用于与多个面板测量中的每个面板测量相关联...
该专利属于高通股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过高通股份有限公司授权不得商用。
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