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一种包络检波芯片的测试装置，包括包络检波部分和射频功率放大器部分，射频信号经包络检波芯片U1输出包络信号并与预留调试电感L4相连；射频信号经功率放大器芯片U2输出放大射频信号，供电部分由功率放大器芯片U2的VCC脚、Vbias脚和Iref脚...
该专利属于郑州中科集成电路与系统应用研究院所有，仅供学习研究参考，未经过郑州中科集成电路与系统应用研究院授权不得商用。

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