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本发明公开了一种基于可学习的K临近点采样的缺陷点云数据重建方法，包括获取缺陷点云数据，并进行预处理；采用多尺度图形特征编码器对处理后的缺陷点云数据进行点云特征提取，得到粗糙点云特征数据；采用堆叠式Refine模块提取不同尺度下粗糙点云的几何...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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