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本发明涉及一种基于小样本学习的多失效模式下设备剩余寿命预测方法，所述的方法包括以下步骤：S1、收集设备的传感器信号、失效模式以及剩余使用寿命；S2、构建推理网络，基于贝叶斯模型不可知元学习模型获取失效模式概率分布和剩余使用寿命概率分布；S3...
该专利属于上海交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学授权不得商用。

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