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本申请公开了一种基于光学特性的铁电晶体的三维定向方法。方法为：获取测试晶片切割面最强衍射峰代表的晶面指数(h1k1l1)；采用X射线定向仪获取(h1k1l1)晶面与测试晶片的切割面之间的偏角，获得晶面指数为(h1k1l1)的切割面；对(h1...
该专利属于中国科学院福建物质结构研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院福建物质结构研究所授权不得商用。

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