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本申请提供了晶圆图配置数据的修正方法、装置、电子设备及存储介质，包括：基于历史晶圆的类型以及测试节点对历史晶圆相对应的历史芯片测试数据进行聚合处理，确定历史晶圆相对应的历史芯片测试数据集合；基于历史芯片测试数据集合下的历史芯片在横轴方向上的...
该专利属于上海孤波科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海孤波科技有限公司授权不得商用。

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