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本发明公开了一种用于方形电子元件的智能检测装置，具体涉及电子元件检测领域，包括桌体，所述桌体顶部两侧均固定连接有支撑架，两个所述支撑架之间贯穿有传动螺杆，所述传动螺杆一侧设有滑杆，所述传动螺杆中部设有第一齿轮，所述传动螺杆底部设有驱动电机。...
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